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日米で同時に特許取得可能に 情報共有、取得期間も短縮 印刷
2015年 5月 26日(火曜日) 00:36

特許庁と米国特許商標庁は21日、特許の同時申請を8月から受け付けて、審査のための情報を共有することで合意したと各紙が報じた。審査期間を短くするほか、日米で同時に特許がとれるようにする。企業にとっては日米での商品同時発売などがしやすくなりそうだ。特許庁によると、特許当局同士が審査段階で情報を共有する取り組みは、世界初という。発表によると、同時申請を受けた発明は両当局が優先的に審査を始め、判断材料となる関連文献や研究論文の調査、同じような特許の有無などの調査情報を共有する。